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激光功率和稳定性测量 |
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激光功率计用于测量激光功率和稳定性。CNI为客户提供热电式和光电式激光功率计…… |
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激光波长测量 |
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光纤光谱仪用于测试激光等光源的波长、线宽。还可用于测试激光激发的荧光、拉曼、等离子体光谱…… |
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光电探测器 |
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光电探测器与示波器相结合，可以对超快脉冲激光器进行监控，测量激光器的脉冲持续时间、频率、周期等参数。 |
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VO2相变特性测试系统
NEW
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VO2相变特性测试系统利用激光照射VO2样品对其进行升温，并实时监测透过VO2样品的激光功率，进而得到VO2样品的实时透过率等参数，用于对VO2相变特性的研究。 |
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激光晶体吸收系数测量系统
NEW
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激光晶体吸收系数测量系统采用双光路差分原理，实时监测透过样品前后的激光功率，旋转样品以达到最佳测试点，从而获得激光晶体吸收系数。
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计算光谱成像系统
NEW |
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计算光谱成像系统是单光谱（SPSI)测量系统可实现数据压缩，同时获得良好的光谱和空间分辨率。通过数据优化可以缩小光谱带宽，并研究了空间分辨率的相应变化。
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Z扫描技术
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Z扫描技术是通过改变样品相对聚焦高斯光束束腰的扫描位置Z，来测量远场接收屏上激光的归一化透过率T，从而获得材料的三阶或高阶非线性系数。 |
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光镊系统
NEW
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光镊系统采用连续激光器实现梯度力光阱，移动样品使其束缚于焦点，可对液体环境中的微米级样品进行操纵和捕获。 |
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纵模测量 |
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纵模测量采用扫描
式法布里-珀罗干涉仪。激光纵模是指光场沿其传播方向的轴向分布。 |
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偏振态测量 |
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偏振度、消光比成为描述偏振状态的约束量。格兰棱镜用于激光束偏振态的测量…… |
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相干长度测量 |
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用迈克尔逊干涉仪将激光束分成两路，两路光再次相交时在焦平面上形成干涉条纹…… |
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显示卡 |
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便于观察激光波长范围250nm到13um光斑，并且具有高亮度，高对比度及边缘明锐度强的特点。 |
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集成式OEM功率计 |
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非常适合集成到激光加工设备或激光测试系统中，实现对激光功率的监控和反馈，广泛应用于激光加工、激光医疗、激光装备制造等领域。
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M²测量系统 |
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M²测量系统整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求。可以广泛的用于激光技术、光纤通信，生物医学，激光加工制造等领域。 |
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