|
|
|
STA-OPTS光电探测系统 |
|
|
|
STA-OPTS光电探测系统主要应用于物理学、材料科学、半导体材料等领域；可测试光电探测器、光伏电池、半导体薄膜器件等；
功能包括：IV特性、IT扫描、光电流、光功率、响应度、量子效率、光响应时间、（超）低频噪声、输出与转移特性、3dB带宽等全套测试；通过采集器件光暗电流、响应时间等数据，直观反映器件缺陷、材料内部组分结构等信息，为材料组分优化、器件结构设计、制备工艺改良提供完整实验依据；为材料组分调控。
该系统包括气浮光学平台、光源、单色仪、显微镜、电流放大器、数据采集器、测试软件、电脑控制端等；
目前，STA-OPTS光电探测系统已应用于清华大学、南京大学、哈尔滨工业大学、大连理工大学、长春应化所、长春理工大学、南京大学、江南大学、河南师范大学、西南大学、厦门大学、宁波大学、南华大学、黑龙江大学等科研单位与院校。 |
|
|
|
 |
|
特点 |
|
fA级电流测试能力，屏蔽效果极佳，减少外界电磁干扰； |
|
Repeat功能实现不同条件下曲线的同时测量与显示； |
|
支持图片(bmp)和数据(xls)两种格式的同时存储
； |
|
真实1/f噪声的测试与分析，揭示缺陷对电流的动态影响； |
|
底噪小于2×10-29 A²/Hz (or 1×10-31 A²/Hz)（或1×10-31A²/Hz），轻松测试nA级（或pA级）电流噪声； |
|
直流与交流一键切换，物理去除直流分量对1/f曲线的影响； |
|
动态平均可视化，RMS、Vector、Peak三种数据处理方式，最高平均500次； |
|
在线选择时域数据，自动拟合计算并一键显示3dB带宽； |
|
在线坏点删除功能，让曲线规律更加明显； |
|
应用 |
|
材料学 |
|
物理学 |
|
传感器 |
|
光伏器件 |
|
钙钛矿等半导体材料研究方向 |
|
|
主要参数 |
|
设备名称 |
STA-OPTS光电探测系统 |
|
波段范围 |
300-2500nm |
|
光谱分辨率 |
1nm |
|
偏置电压范围 |
±10V |
|
电流分辨率 |
＜10fA |
|
最大电流 |
1mA |
|
数据采样率 |
2M/S |
|
高速电流增益 |
103～1011 |
|
低速电流增益 |
105～1014 |
|
系统电流底噪 |
2×10-29A2/Hz（低频）
1×10-31A2/Hz（超低频） |
|
低频噪声频率范围 |
1Hz-100KHz |
|
超低频噪声频率范围 |
0.01Hz-10Hz |
|
参数页 |
 |
|
|
|
|
测试结果展示 |
|
|
 |
|
光电流 |
光功率 |
|
 |
 |
|
响应度 |
量子效率 |
|
 |
 |
|
1/f噪声 |
响应时间 |
|
 |
 |
|
输出特性曲线 |
脉冲IV扫描 |
|
|
|
