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STA-LFNT（超）低频噪声测试系统主要应用在物理学、材料科学、半导体材料器件等领域；可测试光电探测器、二维新型功能材料器件、传感器等；
功能包括低频噪声测试、（超）低频噪声测试、RTN测试与特性分析等，通过测试得到的1/f噪声、噪声功率谱等数据，能够直观反映器件内部晶格缺陷、界面电荷陷阱、载流子输运等情况，为材料组分优化、器件结构设计、制备工艺改良提供实验依据；
系统包括微型光学平台，低噪声电流放大器，频谱分析仪，光学显微镜等，核心模块采用进口品牌，保证测试精准度；
目前，STA-LFNT（超）低频噪声测试系统已应用于清华大学、南京大学、哈尔滨工业大学、大连理工大学、长春应化所、长春理工大学、南京大学、江南大学、河南师范大学、西南大学、厦门大学、宁波大学、南华大学、黑龙江大学等科研单位与院校。
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